在日常生活中，電子產品等設備在環(huán)境可靠性試驗中也存在較多問題，如高溫、低溫、濕熱試驗中會出現射頻指標不合格而導致電子產品工作不正常；振動試驗中產品的頻率和相位誤差超標引起產品在移動體上工作不可靠；跌落試驗中產品的天線脫落、屏幕無顯示、屏幕出現放射狀裂紋等。

導致上述問題的原因有很多，如電路結構及參數配置不合理、電子元器件的選用不當可能會造成高溫、低溫、濕熱、振動試驗中的性能指標不合格；元器件的虛接、屏幕部分的保護不足、連接器的接口過松會導致跌落過程中電子產品出現故障；模具設計不合理、受力點處結構單薄、裝配時轉軸的角度和力度不合適、轉軸的可靠性不夠、FPC的耐折性不強、手機材質較差都可導致翻蓋壽命試驗不合格。

為了減少產品投入市場后出現的各種不穩(wěn)定情況，通常產品在上市時會進行一個環(huán)境可靠性檢測，用來評估產品在規(guī)定的壽命時期內，在預期的使用、運輸或者儲存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性進行的活動測試，產品在規(guī)定環(huán)境條件下，規(guī)定時間內完成規(guī)定的功能的能力。通過環(huán)境可靠性測試可以分析和評估各種環(huán)境因素對產品性能的影響程度及作用機理，該實驗多用于汽車、通訊、電子電器等產品類別。

中科檢測開展環(huán)境可靠性檢測，環(huán)境可靠性實驗中心擁有高低溫濕熱試驗箱、快速溫變箱、溫度沖擊箱、低氣壓箱、熱真空試驗箱、霉菌試驗箱及鹽霧箱等各種氣候環(huán)境模擬試驗設備，能滿足各種產品的氣候環(huán)境試驗需求。

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電子產品環(huán)境可靠性檢測cma資質報告